Исследование тенденций в оптических характеристиках инфракрасных объективов с использованием инструментов патентного ландшафта
+7 (383) 343-12-55 vestnik@ssga.ru
Ru
En
Ru
En
Авторам публикаций
Вестник СГУГиТАрхив журнала Исследование тенденций в оптических характеристиках инфракрасных объективов с использованием инструментов патентного ландшафта

Исследование тенденций в оптических характеристиках инфракрасных объективов с использованием инструментов патентного ландшафта

Оптико-электронные приборы и комплексы
УДК: 681.7.067.2
DOI: 10.33764/2411-1759-2025-30-5-164-174
А. А. Елисеева 1 2, Т. Н. Хацевич 1 3
Год: 2025
Том: 30
№: 5
Страницы: 164 - 174
1 Сибирский государственный университет геосистем и технологий, г. Новосибирск, Российская Федерация
2 Федеральный институт промышленной собственности, г. Новосибирск, Российская Федерация
3 Общество с ограниченной ответственностью «Оптическое Расчетное Бюро», г. Новосибирск, Российская Федерация

Финансирование: -

Аннотация:

Проведено исследование патентной активности на территории мирового сообщества с целью выявления тенденций в оптических характеристиках объективов для инфракрасного приборостроения. Использованы специальные методы технического и патентного анализа, патентной аналитики, включая инструменты патентного ландшафта. Исследование проведено по базе данных аналитического сервиса Lens.org. В ходе исследования выявлены определенные тенденции и зависимости, включая вызовы к техническим характеристикам, относительно возможных пределов. Выявлены некоторые тенденции в технических характеристиках запатентованных решений инфракрасных объективов: доминирование объективов для тепловизионных приборов; преобладание объективов с относительными отверстиями выше 1 : 1,5; тренд на повышение относительного отверстия в новых разработках объективов, тенденция на увеличение углового поля.

Ключевые слова (RU):

патентные исследования, оптические характеристики, тенденции

Ключевые слова (EN):

patent studies; optical characteristics; trends

Читать статью Скачать JATS XML

Библиографический список:

  1. Касьянов П. Е. Современные методы патентной аналитики как инструмент оценки и управления инновационной деятельностью // Управление наукой: теория и практика. – 2019. – Т. 1, № 4. – С. 132–144.
  2. Патентная аналитика ФИПС [Электронный ресурс]. – URL: https://patentanalytics.fips.ru/ (дата обращения: 19.03.2025).
  3. Попов Н. В. Подходы к использованию инструментов патентной аналитики при оценке перспективных направлений НИОКР [Электронный ресурс]. – URL: https://new.fips.ru/upload/medialibrary/Doc_Content/popovnv_nir.pdf (дата обращения: 19.03.2025).
  4. Мазур Н. З., Сухих А. Н. Применение инструментов патентной аналитики при исследовании потенциальных технологических направлений развития организации обороннопромышленного комплекса Российской Федерации // Экономика строительства. – 2022. – № 10. – C. 75–79.
  5. Кашеварова Н. А., Андреева А. А., Пономарёва Е. И. Цифровые инструменты патентных исследований // Вопросы инновационной экономики. – 2020. – Т. 10, № 2. – C. 1059–1074.
  6. Поварова Н. Современные инструменты патентной аналитики [Электронный ресурс]. – URL: https://rospatent.gov.ru/content/uploadfiles/docs/prezentaciya-povarovoj-10-09-2018.pdf (дата обращения: 19.03.2025).
  7. Архипова М. Ю., Зацман И. М., Шульга С. Ю. Индикаторы патентной активности в сфере информационно-коммуникационных технологий и методика их вычисления // Статистика и экономика. – 2010. – Т. 1, № 4. – С. 93–104.
  8. Елисеева А. А., Хацевич Т. Н. Инструменты патентной аналитики при проектировании новых оптических и оптико-электронных приборов // Интерэкспо ГЕО-Сибирь. XX Международный научный конгресс, 15–17 мая 2024 г., Новосибирск : сборник материалов в 8 т. Т. 6: Магистерская научная сессия «Первые шаги в науке». – Новосибирск : СГУГиТ, 2024. Т. 6. – С. 92–96.
  9. Ена О., Попов Н. Методология разработки патентных ландшафтов проектного офиса ФИПС // Станкоинструмент. – 2019. – № 1. – C. 28–35.
  10. Тарасов В. В., Якушенко Ю. Г. Инфракрасные системы «смотрящего» типа. – М. : Логос, 2004. – 444 с.
  11. Федеральный институт промышленной собственности: офиц. сайт. – URL: https://www.fips.ru/ (дата обращения: 19.09.2024). – Обновляется в течение суток.
  12. Поисковая система PATENTOSCOPE [Электронный ресурс]. – URL: https://patentscope.wipo.int/search/ru/search.jsf (дата обращения: 19.03.2025).
  13. Espacenet. Patent search [Электронный ресурс]. – URL: https://worldwide.espacenet.com/ (дата обращения: 19.03.2025).
  14. Lens.org [Электронный ресурс]. – URL: https://www.lens.org/ (дата обращения: 19.03.2025).
  15. Елисеева А. А., Хацевич Т. Н. Выявление тенденций в оптических характеристиках объективов для инфракрасного приборостроения по результатам исследования патентной активности на территории Российской Фкдерации // Приборы. – 2025. – № 3 (297). – С. 26–35.
  16. Патент РФ № 2837522 Сверхширокоугольный светосильный ретрофокусный атермальный инфракрасный объектив / Хацевич Т. Н., Елисеева А. А. Патентообладатель: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Сибирский государственный университет геосистем и технологий». Приоритет от 19.11.2024.

Образец цитирования:

Елисеева А. А., Хацевич Т. Н. Исследование тенденций в оптических характеристиках инфракрасных объективов с использованием инструментов патентного ландшафта // Вестник СГУГиТ. – 2025. – Т. 30, № 5. – С. 164–174. – DOI 10.33764/2411-1759-2025-30-5-164-174