<article xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" article-type="research-article" dtd-version="1.3" xml:lang="ru">
    <front>
        <journal-meta>
            <journal-id journal-id-type="archive">vestnik</journal-id>
                <journal-title-group>
                    <journal-title xml:lang="ru">Журнал "Вестник Сибирского государственного университета геосистем и технологий (СГУГиТ)"</journal-title>
                </journal-title-group>
                <issn pub-type="epub">2411-1759</issn>
            <publisher>
                <publisher-name>ФГБОУ ВО "Сибирский государственный университет геосистем и технологий (СГУГиТ)"</publisher-name>
                <publisher-loc>
                    <country>RU</country>
                    <uri>https://vestnik.sgugit.ru</uri>
                </publisher-loc>
            </publisher>
            <self-uri xlink:href="https://vestnik.sgugit.ru" />
        </journal-meta>
        <article-meta>
            <article-id pub-id-type="doi">10.33764/2411-1759-2021-26-1-150-162 </article-id>
            <article-categories>
                <subj-group>
                    <subject xml:lang="ru">Метрология и метрологическое обеспечение</subject>
                </subj-group>
            </article-categories>
            <title-group>
                <article-title xml:lang="ru">Методика измерения комплексных отражений нагрузок транзистора на имитаторе-анализаторе усилителей и автогенераторов СВЧ</article-title>
            </title-group>
            <contrib-group>
                <contrib contrib-type="author">
                    <string-name specific-use="display">С. В. Савелькаев</string-name>
                    <name>
                        <surname>Савелькаев</surname>
                        <given-names>С. В.</given-names>
                    </name>
					<xref ref-type="aff" rid="aff-1" /> 
					<email></email> 
					<bio xml:lang="ru"></bio> 
                </contrib>
                <contrib contrib-type="author">
                    <string-name specific-use="display">Н. А. Вихарева</string-name>
                    <name>
                        <surname>Вихарева</surname>
                        <given-names>Н. А.</given-names>
                    </name>
					<xref ref-type="aff" rid="aff-1" /> 
					<email></email> 
					<bio xml:lang="ru"></bio> 
                </contrib>
                <contrib contrib-type="author">
                    <string-name specific-use="display">Н. В. Чекотун</string-name>
                    <name>
                        <surname>Чекотун</surname>
                        <given-names>Н. В.</given-names>
                    </name>
					<xref ref-type="aff" rid="aff-1" /> 
					<email></email> 
					<bio xml:lang="ru"></bio> 
                </contrib>
            </contrib-group>
            <aff id="aff-1">
                <institution content-type="orgname" xml:lang="ru">Сибирский государственный университет геосистем и технологий, г. Новосибирск, Россия</institution>
            </aff>
            <pub-date date-type="pub" iso-8601-date="">
                <day></day> 
				<month></month> 
                <year>2021</year>
            </pub-date>
            <history> 
                <date date-type="received" iso-8601-date="">
                    <day></day>
                    <month></month>
                    <year></year>
                </date>
                <date date-type="accepted" iso-8601-date="">
                    <day></day>
                    <month></month>
                    <year></year>
                </date>
			</history>
            <volume>26</volume>
            <issue>1</issue>
            <fpage>150</fpage>
            <lpage>162</lpage>
            <counts>
                <page-count count="13" />
            </counts>
            <permissions>
                <copyright-statement>© С. В. Савелькаев, Н. А. Вихарева, Н. В. Чекотун, 2021</copyright-statement>
				<copyright-year>2021</copyright-year>
				<copyright-holder>С. В. Савелькаев, Н. А. Вихарева, Н. В. Чекотун</copyright-holder>
				<license xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0">
					<license-p>Эта статья дотупна по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.</license-p>
				</license>
            </permissions>
            <self-uri xlink:href="http://vestnik.sgugit.ru/arkhiv/metodika-izmereniya-kompleksnykh-otrazheniy-nagruzok-tranzistora-na-imitatore-analizatore-usiliteley/" />
            <support-group>
				<funding-group>
					<funding-statement xml:lang="ru"></funding-statement>
				</funding-group>
			</support-group>
            <abstract xml:lang="ru">Рассмотрен имитатор-анализатор, обеспечивающий имитационное моделирование сверхвысокочастотных &#40;СВЧ&#41; усилителей и автогенераторов в соответствии с техническим заданием и последующим измерением комплексных коэффициентов отражения нагрузок активного компонента этих устройств для их проектирования. Также рассмотрена методика измерения этих параметров и методика калибровки имитатора-анализатора, обеспечивающая передачу результатов измерения из коаксиального измерительного тракта имитатора-анализатора в микрополосковый тракт. Кроме того, рассмотрен метод анализа устойчивости активного компонента в пространстве комплексных коэффициентов отражения его нагрузок, облегчающий их выбор при имитационном моделировании усилителей и автогенераторов.</abstract>
            <kwd-group xml:lang="ru">
                <kwd>имитатор-анализатор</kwd>
                <kwd>калибровка</kwd>
                <kwd>методика измерения</kwd>
                <kwd>комплексный коэффициент отражения и его нормировка</kwd>
                <kwd>метод анализа устойчивости</kwd>
            </kwd-group>
            <kwd-group xml:lang="en">
                <kwd>simulator/analyzer</kwd>
                <kwd>calibration</kwd>
                <kwd>measurement technique</kwd>
                <kwd>complex reflection coefficient and its normalization</kwd>
                <kwd>stability analysis method</kwd>
            </kwd-group>
        </article-meta>
    </front>
    <body></body>
    <back>
        <ref-list>
            <ref id="R1">
                <label>1.</label>
                <mixed-citation>Полупроводниковые входные устройства СВЧ / под ред. В. С. Эткина. – М. : Сов. радио, 1975. – Т. 1. – 344 с.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R2">
                <label>2.</label>
                <mixed-citation>User’s Guide. Agilent E5061A/E5062A ENA Series RF Network Analyzers. – Agilent Technologies : Manufacturing № E5061-90050, June 2007. – 413 p.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R3">
                <label>3.</label>
                <mixed-citation>Dunsmore J. P. Handbook of Microwave Component Measurements: with Advanced VNA Techniques. – Wiley, 2012. – 636 p.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R4">
                <label>4.</label>
                <mixed-citation>Teppati V., Ferrero A., Sayed M. Modern RF and Microwave Measurement Techniques. – Cambridge University Press, 2013. – 476 p.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R5">
                <label>5.</label>
                <mixed-citation>Коротков К. С., Левченко А. С., Мильченко Д. Н., Гатченко М. А. Особенности измерения S-параметров с помощью рефлектометров в диапазоне СВЧ // Экологический вестник научных центров Черноморского экономического сотрудничества. – 2010. – № 3. – С. 20–24.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R6">
                <label>6.</label>
                <mixed-citation>Коротков К. С., Мильченко Д. Н. Особенности измерителей, использующих рефлектометры для определения S-параметров четырехполюсников СВЧ // Телекоммуникации. – 2011. – № 9. – С. 22–26.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R7">
                <label>7.</label>
                <mixed-citation>Савин А. А., Губа В. Г., Быкова О. Н. Определение погрешности измерений импеданса электронных компонентов с помощью векторного анализатора цепей // Метрология. – 2014. – № 10. – С. 20–29.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R8">
                <label>8.</label>
                <mixed-citation>Крылов А. А., Лавричев О. В., Никулин С. М. Измерение S-параметров электронных компонентов в полосковых линиях передачи // Датчики и системы. – 2014. – № 11. – С. 34–41.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R9">
                <label>9.</label>
                <mixed-citation>Измерение 22 S в «горячем» режиме с импульсными сигналами на анализаторе цепей. R&amp;SZVA [Электронный ресурс]. – Режим доступа: www.rohde-schwarz.ru/439/AN001rus_ HotS22_pulse.pdf.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R10">
                <label>10.</label>
                <mixed-citation>Root D. E., Horn J., Betts L., Gillease Ch., Verspecht J. Х-параметры: новый принцип измерений, моделирования и разработки нелинейных ВЧ и СВЧ компонентов // Контрольно-измерительные приборы и системы. – 2009. – № 2. – C. 20–24.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R11">
                <label>11.</label>
                <mixed-citation>Саяпин В. Ю. Описание нелинейных цепей на основе Х-параметров и методика их измерения // Доклады ТУСУР. – 2012. – № 2 (26). – Ч. 1. – С. 83–86.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R12">
                <label>12.</label>
                <mixed-citation>Никулин С. М., Торгованов А. И. Измерение S-параметров нелинейных СВЧ-цепей методом пространственно-удаленной переменной нагрузки // Датчики и системы. – 2014. – № 11 (186). – С. 27–34.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R13">
                <label>13.</label>
                <mixed-citation>Никулин С. М., Торгованов А. И. Измерение S-параметров СВЧ транзисторов при высоком уровне мощности методом пространственно удаленной нагрузки // Датчики и системы. – 2014. – № 4 (191). – С. 14–18.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R14">
                <label>14.</label>
                <mixed-citation>Никулин С. М., Торгованов А. И. Проектирование усилителей СВЧ-мощности. Эффективность метода удаленной переменной нагрузки // Электроника: Наука, технология, бизнес. – 2015. – № 3 (143). – С. 148–153.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R15">
                <label>15.</label>
                <mixed-citation>Савин А. А., Губа В. Г. Измерение параметров полупроводниковых приборов на пластине // Измерительная техника. – 2016. – № 7. – С. 56–61.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R16">
                <label>16.</label>
                <mixed-citation>Энген Г. Ф. Успехи в области СВЧ измерений // Труды института инженеров по электронике и радиоэлектронике. – 1987. – Т. 66. – № 4. – С. 8–20.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R17">
                <label>17.</label>
                <mixed-citation>Петров, В. П., Рясный Ю.В. Коммутационные многополюсные измерители параметров цепей СВЧ // Актуальные проблемы электронного приборостроения (АПЭП-96) : Тр. третьей международной науч.-техн. конф. – Новосибирск, 1996. – Т. 4. – С. 8–9.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R18">
                <label>18.</label>
                <mixed-citation>Савелькаев С. В., Ромасько С. В., Литовченко В. А., Заржецкая Н. В. Теоретические основы построения имитатора-анализатора активных СВЧ-цепей // Вестник СГУГиТ. – 2016. – Вып. 1 (33). – С. 175–188.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R19">
                <label>19.</label>
                <mixed-citation>Савелькаев С. В. Теоретические основы построения имитаторов-анализаторов усилителей и автогенераторов СВЧ : монография. – СПб. : Лань, 2019. – 100 с.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R20">
                <label>20.</label>
                <mixed-citation>Савелькаев С. В., Данилевич С. Б. Проектирование и контроль качества устройств СВЧ методами и средствами имитационного моделирования и измерения : монография. – Новосибирск : СГУГиТ, 2019. – 187 с.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R21">
                <label>21.</label>
                <mixed-citation>Savel’kaev S. V., Danilevich S. B. (2020). Methods and Tools for Simulation and Quality Control of Design and Production of Microwave Devices. – Newcastle upon Tyne, United Kingdom Publisher: Cambridge Scholars Publishing, 283 p.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R22">
                <label>22.</label>
                <mixed-citation>Литовченко В. А. Методы анализа устойчивости активных СВЧ-цепей и измерения их S-параметров // Вестник СГГА. – 2014. – Вып. 1 (29). – С. 90–100.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R23">
                <label>23.</label>
                <mixed-citation>Заржецкая Н. В., Литовченко В. А. Коаксиальное контактное устройство и способ его калибровки // Интерэкспо Гео-Сибирь : XV Междунар. науч. конгр. : Междунар. науч. конф. «Наука. Оборона. Безопасность–2019» : сб. материалов (Новосибирск, 24–26 апреля 2019 г.). – Новосибирск : СГУГиТ, 2019. – Т. 9. – С. 77–86.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R24">
                <label>24.</label>
                <mixed-citation>Zhu N. H. Phase uncertainty in calibrating microwave test fixtures // IEEE Trans. – 1999. – Vol. VTT–47, № 10. – P. 1917–1922.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R25">
                <label>25.</label>
                <mixed-citation>Савелькаев С. В., Литовченко В. А. Отсчетный N-шлейфный перестраиваемый согласующий трансформатор для имитаторов-анализаторов усилителей и автогенераторов СВЧ // Вестник СГУГиТ. – 2018. – Т. 23, № 1. – С. 200–213.</mixed-citation>
            </ref>
            <ref id="R26">
                <label>26.</label>
                <mixed-citation>Петров В. П., Рясный Ю. В., Пальчун Ю. А., Хворостов Б. А. Оценка погрешности методик выполнения измерений // Законодательная и прикладная метрология. – 1998. – № 4. – С. 47–51.</mixed-citation>
            </ref>
        </ref-list>
    </back>
</article>