Сравнительный анализ методов определения состава веществ на основе искрового эмиссионного спектра

В настоящее время большой интерес вызывают методы анализа состава вещества при его малых количествах. Существующие методы подобного анализа в большинстве случаев имеют ограничения по необходимой для контроля массы навески. Кроме этого, использование искрового эмиссионного метода приводит к загрязнению наблюдаемого спектрального распределения составляющими от других сопутствующих веществ, а также вызывает повреждение как подложки, так и экспериментального оборудования. Таким образом, существующие методы контроля состава исследуемой пробы при малых количествах веществ в большинстве случаев недостаточно информативны и при количественных оценках отягощены значительной погрешностью. Результаты сравнительного анализа методов определения состава веществ на основе искрового эмиссионного спектра позволили сделать вывод о перспективности применения оптических схем с использованием явления полного внутреннего отражения. Приведенные в работе экспериментальные результаты подтвердили справедливость данного вывода. Полученные данные могут быть полезны при разработке новых методов и оборудования, применяемых для анализа малого количества исследуемого вещества, например, тонких пленок, осажденных на поверхности подложки.

Детальная_Инф:  Да

Автор1:  Н. Н. Достовалов

Афиилиация1:  Сибирский государственный университет геосистем и технологий, г. Новосибирск, Российская Федерация

Автор2:  Г. В. Симонова

Афиилиация2:  Сибирский государственный университет геосистем и технологий, г. Новосибирск, Российская Федерация

Название статьи:  Сравнительный анализ методов определения состава веществ на основе искрового эмиссионного спектра

Рубрика:  Оптико-электронные приборы и комплексы

Начало_Страница:  155

Конец_Страница:  163

УДК:  543.423

DOI:  10.33764/2411-1759-2025-30-5-155-163

Год:  2025

Номер:  5

Том:  30

Ключевые слова_RU:  методы исследования, спектральные характеристики, искровой метод, полное внутреннее отражение, малое количество вещества

Ключевые слова_EN:  research methods, spectral characteristics, spark emission method, total internal reflection, small quantity of substance

Библиографический список:  1. Кремерс Д., Радзиемски Л. Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия. – М. : Техносфера, 2009. – 360 с.
2. Харрик Н. Спектроскопия внутреннего отражения. – М. : Мир, 1970. – 336 с.
3. Троян В. И., Пушкин М. А. Приборы и методы измерения химического состава и структуры нанообъектов. – М. : МФТИ, 2011. – 182 с.
4. Большаков А. А., Ганеев А. А., Немец В. М. Перспективы аналитической атомной спектрометрии // Успехи химии. – 2006. – № 4. – С. 322–338.
5. Федоров А. В., Баранов А. В., Литвин А. П., Черевков С. А. Специальные методы измерения физических величин. – СПб. : НИУ ИТМО, 2014. – 127 с.
6. Золотарев В. М., Никоноров Н. В., Игнатьев А. И. Современные методы исследования оптических материалов. – СПб. : НИУ ИТМО, 2013. – 166 с.
7. Anabitarte F., Cobo A., Lopez-Higuera J. M. Laser-Induced Breakdown Spectroscopy Fundamentals, Applications, and Challenges // ISRN Spectroscopy. – 2012. – P. 1–12.
8. Gurevich E. L., Hergenroder R. Femtosecond Laser-Induced Breakdown Spectroscopy: Physics, Applications, and Perspectives // Applied spectroscopy. – 2007. – Vol. 61(10). – P. 233A–242A.
9. Contreras V., Meneses-Nava M. A., Barbosa-García O. et. al. Double-pulse and calibrationfree laser-induced breakdown spectroscopy at low-ablative energies // Optics Letters. – 2012. – Vol. 37 (22). – P. 4591–4593.
10. Чесноков В. В., Чесноков Д. В., Достовалов Н. Н. О возможности исследования параметров нанообъектов по их атомно-эмиссионным спектрам, возбуждаемым лазерным излучением на поверхностях с полным внутренним отражением // Вестник СГУГиТ. – Т. 22, № 1. – Новосибирск : СГУГиТ, 2017. – С. 252–261.
11. Чесноков В. В., Чесноков Д. В. Способ и устройство атомно-эмиссионного спектрального анализа нанобъектов : пат. 2573717 Рос. Федерация. №. 2014124085/28; заявл. 11.06.2014; опубл. 27.01.2016, Бюл. № 3.
12. Dostovalov N. N. Development of laser induced breakdown spectrometer with total internal reflection surface for thin film analysis. 25th International Symposium, Atmospheric and Ocean Optics, Atmospheric Physics // Proceedings of SPIE. – Vol. 11208 (SPIE, Bellingham, WA, 2019).
13. Чесноков Д. В., Чесноков В. В. Разработка перспективных методик исследования атомно-эмиссионного спектра монослоя наночастиц // Интерэкспо ГЕО-Сибирь-2015. XI Междунар. науч. конгр. : Междунар. науч. конф. «СибОптика-2015» : сб. материалов в 3 т. (Новосибирск, 13–25 апреля 2015 г.). – Новосибирск : СГУГиТ, 2015. Т. 1. – С. 176–183.
14. Свентицкий Н. С. Визуальные методы эмиссионного спектрального анализа. – М. : Государственное издательство физико-математической литературы, 1961. – 343 с.
15. Kramida A., Ralchenko Yu., Reader J. NIST ASD Team (2023). NIST Atomic Spectra Database (ver. 5.11). – URL: http://physics.nist.gov/asd (AccessedNovember 05, 2024).

Образец цитирования:  Достовалов Н. Н., Симонова Г. В. Сравнительный анализ методов определения состава веществ на основе искрового эмиссионного спектра // Вестник СГУГиТ. – 2025. – Т. 30, № 5. – С. 155–163. – DOI 10.33764/2411-1759-2025-30-3-155-163

Ссылка:  /upload/vestnik/sborniki/2025/30_5/155-163.pdf