vestnik Журнал "Вестник Сибирского государственного университета геосистем и технологий (СГУГиТ)" 2411-1759 ФГБОУ ВО "Сибирский государственный университет геосистем и технологий (СГУГиТ)" RU https://vestnik.sgugit.ru 10.33764/2411-1759-2025-30-5-155-163 Оптико-электронные приборы и комплексы Сравнительный анализ методов определения состава веществ на основе искрового эмиссионного спектра Н. Н. Достовалов Достовалов Н. Н. Г. В. Симонова Симонова Г. В. Сибирский государственный университет геосистем и технологий, г. Новосибирск, Российская Федерация 2025 30 5 155 163 © Н. Н. Достовалов, Г. В. Симонова, 2025 2025 Н. Н. Достовалов, Г. В. Симонова Эта статья дотупна по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная. В настоящее время большой интерес вызывают методы анализа состава вещества при его малых количествах. Существующие методы подобного анализа в большинстве случаев имеют ограничения по необходимой для контроля массы навески. Кроме этого, использование искрового эмиссионного метода приводит к загрязнению наблюдаемого спектрального распределения составляющими от других сопутствующих веществ, а также вызывает повреждение как подложки, так и экспериментального оборудования. Таким образом, существующие методы контроля состава исследуемой пробы при малых количествах веществ в большинстве случаев недостаточно информативны и при количественных оценках отягощены значительной погрешностью. Результаты сравнительного анализа методов определения состава веществ на основе искрового эмиссионного спектра позволили сделать вывод о перспективности применения оптических схем с использованием явления полного внутреннего отражения. Приведенные в работе экспериментальные результаты подтвердили справедливость данного вывода. Полученные данные могут быть полезны при разработке новых методов и оборудования, применяемых для анализа малого количества исследуемого вещества, например, тонких пленок, осажденных на поверхности подложки. методы исследования спектральные характеристики искровой метод полное внутреннее отражение малое количество вещества research methods spectral characteristics spark emission method total internal reflection small quantity of substance 1. Кремерс Д., Радзиемски Л. Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия. – М. : Техносфера, 2009. – 360 с. 2. Харрик Н. Спектроскопия внутреннего отражения. – М. : Мир, 1970. – 336 с. 3. Троян В. И., Пушкин М. А. Приборы и методы измерения химического состава и структуры нанообъектов. – М. : МФТИ, 2011. – 182 с. 4. Большаков А. А., Ганеев А. А., Немец В. М. Перспективы аналитической атомной спектрометрии // Успехи химии. – 2006. – № 4. – С. 322–338. 5. Федоров А. В., Баранов А. В., Литвин А. П., Черевков С. А. Специальные методы измерения физических величин. – СПб. : НИУ ИТМО, 2014. – 127 с. 6. Золотарев В. М., Никоноров Н. В., Игнатьев А. И. Современные методы исследования оптических материалов. – СПб. : НИУ ИТМО, 2013. – 166 с. 7. Anabitarte F., Cobo A., Lopez-Higuera J. M. Laser-Induced Breakdown Spectroscopy Fundamentals, Applications, and Challenges // ISRN Spectroscopy. – 2012. – P. 1–12. 8. Gurevich E. L., Hergenroder R. Femtosecond Laser-Induced Breakdown Spectroscopy: Physics, Applications, and Perspectives // Applied spectroscopy. – 2007. – Vol. 61(10). – P. 233A–242A. 9. Contreras V., Meneses-Nava M. A., Barbosa-García O. et. al. Double-pulse and calibrationfree laser-induced breakdown spectroscopy at low-ablative energies // Optics Letters. – 2012. – Vol. 37 (22). – P. 4591–4593. 10. Чесноков В. В., Чесноков Д. В., Достовалов Н. Н. О возможности исследования параметров нанообъектов по их атомно-эмиссионным спектрам, возбуждаемым лазерным излучением на поверхностях с полным внутренним отражением // Вестник СГУГиТ. – Т. 22, № 1. – Новосибирск : СГУГиТ, 2017. – С. 252–261. 11. Чесноков В. В., Чесноков Д. В. Способ и устройство атомно-эмиссионного спектрального анализа нанобъектов : пат. 2573717 Рос. Федерация. №. 2014124085/28; заявл. 11.06.2014; опубл. 27.01.2016, Бюл. № 3. 12. Dostovalov N. N. Development of laser induced breakdown spectrometer with total internal reflection surface for thin film analysis. 25th International Symposium, Atmospheric and Ocean Optics, Atmospheric Physics // Proceedings of SPIE. – Vol. 11208 (SPIE, Bellingham, WA, 2019). 13. Чесноков Д. В., Чесноков В. В. Разработка перспективных методик исследования атомно-эмиссионного спектра монослоя наночастиц // Интерэкспо ГЕО-Сибирь-2015. XI Междунар. науч. конгр. : Междунар. науч. конф. «СибОптика-2015» : сб. материалов в 3 т. (Новосибирск, 13–25 апреля 2015 г.). – Новосибирск : СГУГиТ, 2015. Т. 1. – С. 176–183. 14. Свентицкий Н. С. Визуальные методы эмиссионного спектрального анализа. – М. : Государственное издательство физико-математической литературы, 1961. – 343 с. 15. Kramida A., Ralchenko Yu., Reader J. NIST ASD Team (2023). NIST Atomic Spectra Database (ver. 5.11). – URL: http://physics.nist.gov/asd (AccessedNovember 05, 2024).